Η διαφορά μεταξύ AOI και AXI

Η αυτοματοποιημένη επιθεώρηση ακτίνων Χ (AXI) είναι μια τεχνολογία που βασίζεται στις ίδιες αρχές με την αυτοματοποιημένη οπτική επιθεώρηση (AOI). Χρησιμοποιεί τις ακτινογραφίες ως πηγή, αντί για ορατό φως, για να επιθεωρήσει αυτόματα τα χαρακτηριστικά, τα οποία είναι συνήθως κρυμμένα από την προβολή.

Η αυτοματοποιημένη επιθεώρηση ακτίνων Χ χρησιμοποιείται σε ένα ευρύ φάσμα βιομηχανιών και εφαρμογών, κυρίως με δύο σημαντικούς στόχους:

Η βελτιστοποίηση της διαδικασίας, δηλαδή τα αποτελέσματα της επιθεώρησης χρησιμοποιούνται για τη βελτιστοποίηση των ακόλουθων βημάτων επεξεργασίας,
Η ανίχνευση ανωμαλίας, δηλαδή το αποτέλεσμα της επιθεώρησης χρησιμεύει ως κριτήριο για την απόρριψη ενός μέρους (για θραύσματα ή επανεξέταση).
Ενώ η AOI συνδέεται κυρίως με την ηλεκτρονική κατασκευή (λόγω της ευρείας χρήσης στην παραγωγή PCB), το AXI έχει πολύ ευρύτερο φάσμα εφαρμογών. Κυμαίνεται από τον ποιοτικό έλεγχο των ζάντων αλουμινίου μέχρι την ανίχνευση θραυσμάτων οστών σε επεξεργασμένο κρέας. Όπου μεγάλος αριθμός παρόμοιων στοιχείων παράγονται σύμφωνα με ένα καθορισμένο πρότυπο, αυτόματη επιθεώρηση χρησιμοποιώντας προηγμένη επεξεργασία εικόνας και λογισμικό αναγνώρισης προτύπων (Vision Computer) έχει γίνει ένα χρήσιμο εργαλείο για να εξασφαλίσει την ποιότητα και τη βελτίωση της απόδοσης στην επεξεργασία και την κατασκευή.

Με την πρόοδο του λογισμικού επεξεργασίας εικόνας οι εφαρμογές αριθμών για αυτοματοποιημένη επιθεώρηση ακτίνων Χ είναι τεράστια και συνεχώς αυξανόμενες. Οι πρώτες εφαρμογές ξεκίνησαν σε βιομηχανίες όπου η πτυχή ασφαλείας των εξαρτημάτων απαίτησε προσεκτική επιθεώρηση κάθε μέρους που παράγεται (π.χ. ραφές συγκόλλησης για μεταλλικά τμήματα σε πυρηνικούς σταθμούς), επειδή η τεχνολογία αναμενόταν πολύ ακριβή στην αρχή. Όμως, με την ευρύτερη υιοθέτηση της τεχνολογίας, οι τιμές μειώθηκαν σημαντικά και άνοιξαν αυτοματοποιημένη επιθεώρηση ακτίνων Χ μέχρι πολύ ευρύτερο πεδίο- εν μέρει τροφοδοτούμενο από πτυχές ασφαλείας (π.χ. ανίχνευση μετάλλου, γυαλιού ή άλλων υλικών σε επεξεργασμένα τρόφιμα) ή για την αύξηση της απόδοσης και τη βελτιστοποίηση της επεξεργασίας (π.χ. ανίχνευση μεγέθους και θέσης οπών σε τυρί για να βελτιστοποιήσουν τα πρότυπα σάλτσας).[4]

Στη μαζική παραγωγή σύνθετων αντικειμένων (π.χ. στην ηλεκτρονική παραγωγή), η έγκαιρη ανίχνευση ελαττωμάτων μπορεί να μειώσει δραστικά το συνολικό κόστος, επειδή εμποδίζει τα ελαττωματικά μέρη να χρησιμοποιηθούν σε επόμενα βήματα παραγωγής. This results in three major benefits: a) it provides feedback at the earliest possible state that materials are defective or process parameters got out of control, b) it prevents adding value to components that are already defective and therefore reduces the overall cost of a defect, and c) it increases the likelihood of field defects of the final product, because the defect may not be detected at later stages in quality inspection or during functional testing due to the limited set of test patterns.


Χρόνος δημοσίευσης: Δεκ-28-2021