Η διαφορά μεταξύ AOI και AXI

Η αυτοματοποιημένη επιθεώρηση ακτίνων Χ (AXI) είναι μια τεχνολογία που βασίζεται στις ίδιες αρχές με την αυτοματοποιημένη οπτική επιθεώρηση (AOI).Χρησιμοποιεί ακτίνες Χ ως πηγή του, αντί για ορατό φως, για να επιθεωρεί αυτόματα χαρακτηριστικά, τα οποία συνήθως είναι κρυμμένα από τα μάτια.

Η αυτοματοποιημένη επιθεώρηση ακτίνων Χ χρησιμοποιείται σε ένα ευρύ φάσμα βιομηχανιών και εφαρμογών, κυρίως με δύο βασικούς στόχους:

Βελτιστοποίηση διαδικασίας, δηλαδή τα αποτελέσματα της επιθεώρησης χρησιμοποιούνται για τη βελτιστοποίηση των παρακάτω βημάτων επεξεργασίας,
Η ανίχνευση ανωμαλιών, δηλαδή το αποτέλεσμα της επιθεώρησης χρησιμεύει ως κριτήριο για την απόρριψη ενός εξαρτήματος (για σκραπ ή εκ νέου επεξεργασία).
Ενώ το AOI συνδέεται κυρίως με την κατασκευή ηλεκτρονικών ειδών (λόγω της ευρείας χρήσης στην κατασκευή PCB), το AXI έχει πολύ ευρύτερο φάσμα εφαρμογών.Κυμαίνεται από τον ποιοτικό έλεγχο των ζαντών αλουμινίου μέχρι την ανίχνευση θραυσμάτων οστών στο επεξεργασμένο κρέας.Όπου παράγονται μεγάλοι αριθμοί πολύ παρόμοιων αντικειμένων σύμφωνα με ένα καθορισμένο πρότυπο, η αυτόματη επιθεώρηση χρησιμοποιώντας προηγμένο λογισμικό επεξεργασίας εικόνας και αναγνώρισης προτύπων (Computer vision) έχει γίνει ένα χρήσιμο εργαλείο για τη διασφάλιση της ποιότητας και τη βελτίωση της απόδοσης στην επεξεργασία και την κατασκευή.

Με την πρόοδο του λογισμικού επεξεργασίας εικόνας, ο αριθμός των εφαρμογών για αυτοματοποιημένη επιθεώρηση ακτίνων Χ είναι τεράστιος και συνεχώς αυξάνεται.Οι πρώτες εφαρμογές ξεκίνησαν σε βιομηχανίες όπου η πτυχή της ασφάλειας των εξαρτημάτων απαιτούσε προσεκτική επιθεώρηση κάθε παραγόμενου εξαρτήματος (π.χ. ραφές συγκόλλησης για μεταλλικά μέρη σε πυρηνικούς σταθμούς ηλεκτροπαραγωγής) επειδή η τεχνολογία ήταν αναμενόμενα πολύ ακριβή στην αρχή.Αλλά με την ευρύτερη υιοθέτηση της τεχνολογίας, οι τιμές μειώθηκαν σημαντικά και άνοιξαν την αυτοματοποιημένη επιθεώρηση ακτίνων Χ σε ένα πολύ ευρύτερο πεδίο - εν μέρει τροφοδοτούμενο ξανά από πτυχές ασφάλειας (π.χ. ανίχνευση μετάλλου, γυαλιού ή άλλων υλικών σε επεξεργασμένα τρόφιμα) ή για αύξηση της απόδοσης και βελτιστοποίηση της επεξεργασίας (π.χ. ανίχνευση μεγέθους και θέσης τρυπών στο τυρί για βελτιστοποίηση των σχεδίων κοπής).[4]

Στη μαζική παραγωγή σύνθετων ειδών (π.χ. στην κατασκευή ηλεκτρονικών), η έγκαιρη ανίχνευση ελαττωμάτων μπορεί να μειώσει δραστικά το συνολικό κόστος, επειδή εμποδίζει τη χρήση ελαττωματικών εξαρτημάτων στα επόμενα στάδια κατασκευής.Αυτό έχει ως αποτέλεσμα τρία σημαντικά οφέλη: α) παρέχει ανατροφοδότηση όσο το δυνατόν νωρίτερα ότι τα υλικά είναι ελαττωματικά ή ότι οι παράμετροι της διαδικασίας έχουν ξεφύγει από τον έλεγχο, β) αποτρέπει την προσθήκη αξίας σε εξαρτήματα που είναι ήδη ελαττωματικά και επομένως μειώνει το συνολικό κόστος ενός ελαττώματος , και γ) αυξάνει την πιθανότητα ελαττωμάτων πεδίου του τελικού προϊόντος, επειδή το ελάττωμα μπορεί να μην ανιχνευθεί σε μεταγενέστερα στάδια στον ποιοτικό έλεγχο ή κατά τη διάρκεια της λειτουργικής δοκιμής λόγω του περιορισμένου συνόλου μοτίβων δοκιμής.


Ώρα δημοσίευσης: Δεκ-28-2021